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MIEMBROS
Auditoria
  El Postgrado en F�sica de la Materia Condensada ( ULA ) y el Postgrado Integrado en F�sica tienen el agrado de invitar a la presentaci�n de la

TESIS DOCTORAL

titulada

Estudio y Caracterizaci�n Estructural de Materiales Semiconductores por Microscop�a Electr�nica de Transmisi�n y Difracci�n de Rayos X

 

a ser defendida por la M. Sc. Rosario �vila el mi�rcoles,  24 de marzo de 2004 ( 10:00 a.m. )

 
Lugar: Sala del Postgrado , ULA, M�rida, Venezuela.

Jurado
Dra. Asil�e Mora    ( Tutor, ULA )
Dr. Dwight Acosta    ( UNAM-M�xico )
Dr. V�ctor Garc�a    ( ULA )














Comentarios, comunicarse con: pif@fisica.ciens.ucv.ve